英國TASL TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)由愛儀器儀表網(wǎng)代理,本產(chǎn)品是基于核徑跡分析技術(shù)發(fā)展的高性能全自動圖像測量及分析系統(tǒng),用于測量及分析各類塑料徑跡探測器。現(xiàn)在熱賣中!
TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)簡介:
TASLimage是基于核徑跡分析技術(shù)發(fā)展的高性能全自動圖像測量及分析系統(tǒng),用于測量及分析各類塑料徑跡探測器,例如 TASTRAK(TASL 公司生產(chǎn))、CR39、PN3。
TASLimage系統(tǒng)的顯微鏡模塊采用了高質(zhì)量 Nikon 光學(xué)器件和超快 3D 機動控制系統(tǒng),保證了系統(tǒng)的高測量效率、高精度及低本底等優(yōu)異性能。
TASLimage適用于中子測量、氡濃度監(jiān)測、聚變研究、α 粒子放射自顯影、鈾礦勘探、宇宙射線以及放射領(lǐng)域教學(xué)。
TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)特點:
全自動聚焦,全自動掃描點碼和蝕刻徑跡;
全自動測讀批量探測器;
快速測讀,測讀時間為 30~60 秒(與參數(shù)設(shè)置相關(guān));
自動修正探測器響應(yīng)衰退,保證探測器可用于 12 個月的長期監(jiān)測;
高度精密的圖像分析技術(shù),可區(qū)分徑跡與本底特征;
全自動本底評估(對每個探測器);
掃描數(shù)據(jù)自動轉(zhuǎn)換為中子劑量 / 氡濃度;
數(shù)據(jù)可導(dǎo)出 excel 文件。
TASLimage軟件界面
TASTRAK核徑跡探測器
TASLimage徑跡蝕刻測量系統(tǒng)技術(shù)參數(shù):
探測器類型 | PADC(聚丙烯二甘醇碳酸酯) |
兼容品牌 | TASTRAK,CR39,PN3 等,不限尺寸 |
TASTRAK 規(guī)格 | 常規(guī):0.5mm,0.75mm,1.0mm,1.5mm, 可定制:0.1~0.5mm,> 1.5mm |
本底徑跡 | < 20tracks/cm2 |
蝕刻數(shù)量 | 150 個或 294 個,不銹鋼蝕刻架 |
蝕刻條件 (TASTRAK) | 氡:98℃ , 約 1 小時;或 75℃ , 約 6 小時; 中子: 85℃ , 約 3 小時 |
識別徑跡密度 | ≥ 140tracks/mm2 |
探測限 | 氡:5Bq/m3 ~15MBq/m3 中子:下限< 0.25mSv |
線性 | 中子:優(yōu)于 5%, 不窄于 0.1mSv - 600 mSv; 氡: 3%-6%(200-5000 Bq/m3 ) |